Vendredi 29 janvier 2010 — 14 h 30

Pittcon 2010: Assistez à la présentation ''Total Cement and Raw Materials Fusion/XRF Analytical Solution

Le Chimiste spécialiste en application, M. Mathieu Bouchard, présentera les résultats des travaux de recherche sur l'analyse d'échantillons de ciment et de matières premières de cette industrie, lors de la session de présentations orales dédiée à la méthodologie XRD-XRF à la Pittcon 2010 qui aura lieu à Orlando en Floride, du 28 février au 5 mars prochain.

La présentation ‘’Total Cement and Raw Materials Fusion/XRF Analytical Solution’’ par Mathieu Bouchard, en collaboration avec John A. Anzelmo, Sebastien Rivard, Alexander Seyfarth, Larry G. Arias et Kai Behrens, se déroulera Jeudi, le 4 mars 2010 à 9 :55a.m. dans la salle 206A.

N'oubliez pas de vous arrêter au stand #3132-3135 pour rencontrer l'équipe Claisse et vous renseigner sur nos nouveautés.